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  • 德Sartorius Cubis® II超微量天平

    德Sartorius Cubis® II超微量天平 超微量天平用于以0.1 µg可读性称量少量样品。这些天平经常用于滤膜称重,如环境测试。通过称量滤膜的初始重量和回称,确定截留微粒的量。另个应用是称量心脏及血管支架,以确定支架上薄的化学物质涂层的量。

    更新时间

    2024-09-20

    厂商性质

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